我们的优势：

· 超过3亿颗DFB芯片测试经验

· 超过500万颗EML芯片测试经验

· 温度测试范围广(-40℃~100℃)

· 二十多家客户服务经验，其中有超过十家国外客户

· 数据库跟踪每个芯片的测试结果

· AOI可覆盖脊波导发光区2μm

· 范围完整的样品、NPI和批量生产制程控制流程

· 完整的金样、银样、校准和GRR控制流程

· 全过程无接触芯片，避免静电风险